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方块电阻测试仪GSZ-ST-21 XX-2
  • 发布日期:2019-12-09      浏览次数:1050
    • 方块电阻测试仪/电阻测试仪

       型号:GSZ-ST-21

      方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

      该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

       

      ◆ 特点

      1

      采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;

      2

      以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;

      3

      采用单个电池供电,带电池欠压指示;

      4

      体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;

      5

      特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

      方块电阻测试仪GSZ-ST-21 XX-2

      方块电阻测试仪GSZ-ST-21 XX-2

      6

      探头带抗静电模块
      ◆ 技术指标:

      测量范围

      按方块电阻量值大小分为二个量程档:
       1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;
       2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;

      恒流源

      测量过程误差:≤±0.8%

      模数转换器

      量程:0~199.99mv;
      分辨率:10μv;
      方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;

      测量不确定度

      在整个量程范围内,测量不确定度≤5%

      四探针探头规格

      间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

      电源

      9V叠层电池1节

       


       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

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