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电脑膜层测厚仪JL-LKTC-1/LKT
  • 发布日期:2019-12-12      浏览次数:886
    • 产品特点:

      1.采用了磁性和涡流两种测厚方法,既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;

      2.分体(传感器与仪器之间通过引线连接)、两用(F型N型合一);

      3.*的温度补偿算法;

      4.具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

      5.具有统计功能:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);

      6.具有存储功能:可存储500 个测量值。

      主要功能:

      测头类型FN
      工作原理磁感应电涡流
      测量范围0~1250μm0~1250μ
      其中:铜上镀铬(0~40μm)
      分辨力0.1μm(0~50μm)  1 m( 50μm)
      测量误差3%H+1μm(H为测量范围)
      示值误差
      一点校准(μm)±(3%H1)±(3%H+1.5)
      二点校准(μm)±[(1~3)%H+1]±[(1~3)%H+1.5]
      测试条件
      小曲率半径(mm)凸1.5凸3
      小面积的直径(mm)Φ7Φ5
      基体临厚度(mm)0.50.3
      工作电压3*1.5V   AAA碱性电池
      外形尺寸155mm*68mm*27mm
      整机重量230g

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

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