专业的镀层测厚仪器E8-SPR是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),与普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告; E8-SPR采用小光斑设计,多种工作模型供选择,测试数据更,更稳定。
外形特点:
● 仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。
● 上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。
● 表面采用高档汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。
● 可视化样品窗。
● 辐射防护:
● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线。
● 辐射标志警示。
●迷宫式结构,防止射线泄漏。
● 安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μS快速切断X 仪器经第三方检测,X射线剂量率*符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。
硬件技术:
● 超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。
● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。
● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;*设计。
● 电路系统符合EMC、FCC测试标准。
● 技术快拆样品盘,更换薄膜更 软件技术:
● 分析元素:Na~U之间元素。
● 分析时间:60秒。
● 配置RoHS检测分析模型,无卤分析 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易可配置镀层测厚模型、玩具指令等模型。
● HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。
● HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试度。
● HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。
探测器
● 类型:X123探测器(采用*高性能电致冷半导体探测器)
● Be窗厚度:1mil
● 晶体面积:25mm2
● 分辨率:145eV
● 信号处理系统DP5
X射线管
● 电 压 :0~50kV
● 大电流 :2.0mA
● 大功率 :50W
● 靶 材 :Mo
● Be窗厚度 :0.2mm
● 使用寿命 :大于2万小时
高压电源
● 输出电压:0~50kV
● 灯丝电流:0~2mA
● 大功率:50W
● 纹波系数:0.1%(p-p 8小时稳定性:0.05%
摄像头
● 微焦距
● 500万像素
准直器、滤光片
● 快拆卸准直器、滤光片系统
● 多种材质准直器
● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选
● 多种滤光片、准直器组合,软件自动切换
其他配件
●进口高性能开关电源
●进口低噪声、大风量风扇
● 外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (长x宽x高)
● 样品仓尺寸 :360mm×330 mm ×50 mm (长x宽x高)
● 仪器重量 :33.5kg
● 供电电源 :AC220V/ 50Hz
● 大功率 :330W
● 工作温度 :15-30℃
● 相对湿度 :≤85%,不结露
● 镀层分析:各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析;镀层元素含量分析
● RoHS /ELV指令测试元素:Pb(铅)、Cd(镉)、Hg(汞)、Cr(铬)、Br(溴)
●无卤检测:测试元素:Br(溴)、Cl(氯);
●合金分析:钢铁、铜类、锌类等成分分析。