HD-SZT-2C/SZT-C四探针测试仪
技术参数: 1). 测量范围: 电阻率:10-5~105 Ω.cm 方块电阻:10的-4次方 ~10的6 次方Ω/□ 电阻:10-5~105 Ω; ·2). 可测半导体材料尺寸 直径:5mm-250mm 长度:任意(需要配笔试探头) ·3). 测量方法: 轴向、断面均可
型号:HD-SZT-2C/SZT-C 访问量:2125 厂商性质:经销商
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